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德国费希尔X射线荧光镀层测厚仪XAN系列

XAN 系列

XAN® 系列仪器特别适合测量和分析超薄镀层,即使镀层成分复杂或含量微小也都能准确测量。该系列产品简单易用且性价比高,因此在同类产品中脱颖而出。

XAN 系列

特性:

  • 操作简单且性价比高。

  • 自下而上进行测量,从而快速、简便地定位样品

  • 广泛适用:为各个行业的典型需求量身定制了多种型号

  • 以非破坏性方式进行镀层厚度测量与元素分析

  • 带有高性能 X 射线管和高灵敏度的硅漂移探测器 (SDD)的机型,可对极薄镀层及微量成分进行*测量

应用:

镀层厚度测量

  • 厚度仅为几纳米的贵金属镀层

  • 时尚首饰:对代镍镀层等新工艺多镀层系统进行分析

  • 抗磨损镀层,如:对化学镍镀层的厚度及磷含量进行测量

  • 测试纳米级基础金属化层(凸点下金属化层,UBM) 

材料分析

  • 测定黄金首饰等贵金属、手表和硬币的成分与纯度

  • 经验丰富实验室、检测机构以及科研院校中常规材料分析

  • 依据 RoHS、WEEE、CPSIA 以及其他准则,检测电子元件、包装以及消费品中不合要求的物质(例如重金属)

  • 功能性镀层的成分,如测定化学镍中的磷含量